Lección 3 de 4
Comprende por qué los fallos DU ocultos requieren pruebas periódicas: impacto del intervalo TI sobre PFDavg, eficiencia del test (PE), Partial Stroke Testing (PST) con fórmula de cobertura C, comparativa FST vs PST, procedimientos detallados por componente (transmisor, PLC, válvula ESD, barrera IS), gestión del bypass con LOTO y documentación requerida por IEC 61511 Cláusula 16.
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